작고, 경제적이면서도
뛰어난 성능의 빔 프로파일러.
– 실시간 데이터 측정 : 실시간 빔의 형상과 파라미터를 측정 및 기록
– 간편한 사용자 인터페이스 : 전용 S/W 제공으로 간편한 사용 가능, API 지원
– 활용 분야 : 레이저 시스템 정렬 평가, 미세 정렬을 위한 빔 센서, 레이저 빔 파라미터의 장기간 측정 및 기록
– 제품 사양
Model | Beam Profiler-VIS |
파장 범위 | 190-1100 nm |
해상도 | 2048×1536(3.2MP) |
픽셀 크기 | 3.45 μm |
최소 빔 직경(without lens, 10 px) | 35 μm |
셔터 | Global |
셔터시간 | 30 μs ~ 10 s |
최대 프레임레이트(최대 해상도 기준) | 35.4 FPS |
인터페이스 및 전원 | GigE PoE (또는 별도 +12VDC) |
크기 | 35 × 46.4 × 52 ㎣ |
표준 | ISO 11146 / ISO 13694 |
로그 및 통계 | 현재, 평균, 표준편차 |
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